El grupo de ingeniería y tecnología Sener ha participado una vez más en Asne Day 2016, el Congreso anual organizado por la Asociación de Ingenieros Navales Militares de Estados Unidos.
Como en años anteriores, la cita tuvo lugar en Arlington, cerca de Washington DC, los días 2 y 3 de marzo. El evento reúne a un número significativo de los astilleros militares y empresas relacionadas de Norteamérica, que acuden a ver las novedades del sector, tanto en las presentaciones técnicas como en la zona de exhibición.
Sener, empresa que contaba con un stand propio, presentó la innovadora versión de Foran V80, una apuesta necesaria para las complejas necesidades del entorno de diseño y construcción naval militar.
Algunas de las ventajas de Foran V80 son: el uso de una única herramienta de diseño y producción integrada durante el ciclo de vida del producto, una aproximación innovadora y en 3D a las etapas tempranas del diseño, conexión con el resto de sistemas y procesos dentro de la empresa, entre los que destaca la integración bidireccional con herramientas de Gestión de Ciclo de Vida (PLM) y la interacción con el modelo virtual del buque en plataformas avanzadas.
El Sistema Foran de Sener, un software de CAD/CAM/CAE para diseño y producción de cualquier tipo de buque y artefacto marino, ha cumplido 50 años en 2015, medio siglo de continua reinvención que lo convierte en el más longevo del mercado. Actualmente, Foran se encuentra a la vanguardia de la tecnología, está instalado en 40 países y se utiliza en programas militares de referencia mundial, tales como Navantia (España), BAE Systems (Reino Unido), Babcock International Group (Reino Unido) y Asmar (Chile).
Sener realiza desde hace años una intensiva labor en la zona de América del Norte, donde ofrece una solución única al sector naval militar y comercial, y donde cuenta con importantes clientes.
Un equipo formado por la responsable del Área de América del Norte, Verónica Alonso, y el director de los proyectos navales en Norteamérica, Antonio Valderrama, ambos de Sener, acudió al evento.